Воронцов Константин рассказал о метрических классификаторах, непараметрической регрессии и распределении отступов, а также как происходит отбор эталонов и оптимизация метрики, о профиле компактности и скользящем контроле.
- Метрические алгоритмы классификации
- Гипотеза компактности
- Метод ближайших соседей и его обобщения
- Снова метод парзеновского окна
- Метод потенциальных функций
- Отбор эталонов и оптимизация метрики
- Понятие отступа
- Алгоритм отбора эталонных объектов STOLP
- Понятие конкурентного сходства
- Простой жадный алгоритм оптимизации метрики
- Профиль компактности и скользящий контроль
- Полный скользящий контроль CCV
- Понятие профиля компактности
- Отбор эталонов по функционалу CCV
